山岸春奈,我的天使我的爱txt,压倒酱紫大神,景少拐妻有一套

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    2016-7

    你了解FT-3600粉體高溫壓縮強度測試系統(tǒng)嗎?

    FT-3600粉體高溫壓縮強度測試系統(tǒng)1概述:粉體在高溫環(huán)境下的壓縮特性,用于描述粉體在溫變下體積、密度、壓縮與壓力的變化關(guān)系及阻抗的變化;通過對粉體施加屈服強度變形所需的主應(yīng)力,來分析粉體的體積變化與壓力關(guān)系即(主應(yīng)力與粉體密度的變化關(guān)系),時間與屈服強度變化關(guān)系,屈服強度與壓縮高度變化關(guān)系,溫度與阻抗的變化關(guān)系,壓力與阻抗的變化關(guān)系等數(shù)據(jù)函數(shù)關(guān)系;采用經(jīng)驗方程法:Heckel、Kawakita、Adams方程及川北方程線性回歸方程的壓縮理論來分析粉體顆粒新品、研發(fā)固體產(chǎn)品...
  • 7

    2016-6

    高溫粉末電阻率測試簡單介紹

    高溫粉末電阻率測試系統(tǒng)提供一種在高溫環(huán)境下測試粉體材料電性能,分析粉體在高溫環(huán)境下電阻,電阻率(電導率),與壓強和溫度的實時變化關(guān)系,能模擬粉體本身在使用環(huán)境和自身特性高溫環(huán)境下的電性能狀態(tài).為提高生產(chǎn),品質(zhì)管理,研發(fā)新品,改善配方提供新的參考數(shù)據(jù).為改善生產(chǎn)工藝和新品生產(chǎn)中存在的可能性以及不確定性的影響因數(shù)進行提前預測和預防,建立產(chǎn)品從研發(fā)到生產(chǎn)的過程數(shù)據(jù)庫模型.本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門,是檢驗和分析粉末樣品質(zhì)量的...
  • 28

    2016-3

    經(jīng)濟型粉體剪切測試儀

    FT-3100經(jīng)濟型粉體剪切測試儀一、描述:粉體工業(yè)在加工、存儲、運輸、料倉中常出現(xiàn)拱架/鼠孔結(jié)構(gòu);如壓縮拱受料倉壓力作用固結(jié)強度增加導致結(jié)拱;鍥形拱塊狀物料互相嚙合在孔口架橋成拱;粘結(jié)粘附拱水分、靜電吸附導致粉料與倉壁粘附力增強成拱;氣壓平衡拱:卸料裝置密封不好,導致大量空氣從底部漏入倉內(nèi)使料層上下氣壓平衡所致;在粉粒料的貯存與輸送系統(tǒng)中,物料的流動性、物料之間及物料與固體壁面的摩擦;在料斗的設(shè)計中,排料口的大小、料斗壁的傾斜角以及粉料對料斗壁的壓力,設(shè)計不合理的料斗會給生...
  • 3

    2016-3

    多功能電壓降測試儀LX-9830D

    :LX-9830D多功能電壓降測試儀;采取工業(yè)自動化測控技術(shù)結(jié)合高精度AD芯片;使用標準4.3寸液晶顯示器;所有數(shù)據(jù)輸入采用薄膜按鍵設(shè)定,在測試時可以通過設(shè)定電壓降上、下限及測試時間來確保產(chǎn)品測試的準確性及嚴格性,高精度的測試電流和電壓可以任意調(diào)節(jié);具有統(tǒng)計良品與不良品功能;自動計時功能;超上下限指示燈報警;測試模式:自動和手動兩種,可以用于對產(chǎn)品全檢或抽檢,為質(zhì)量管控之*儀器。本機型在老款基礎(chǔ)上升級,采用液晶顯示和薄膜面板控制,采用恒流恒壓開關(guān)電源系統(tǒng)供源,保證測試之穩(wěn)定性...
  • 2

    2016-3

    東北導體材料高溫電阻率測試系統(tǒng)FT-352

    導體材料高溫電阻率測試系統(tǒng)方法測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗采用由四端測量箱結(jié)合配置的高溫測試探針治具,滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求,通過先進的測控軟件可以顯示出溫度與電阻,電阻率,電導率數(shù)據(jù)的變化曲線,是檢驗和分析材料質(zhì)量的一種重要的工具。二、適用行業(yè):廣泛用于:生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測量.三、功能介紹:液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和...
  • 23

    2016-2

    半導體電阻率測試儀是檢驗半導體材料的重要工具

    半導體電阻率測試儀是根據(jù)四探針原理,適合半導體器材廠,材料廠用于測量半導體材料的電阻率,方塊電阻(簿層電阻),也可以用作測量金屬薄層電阻,經(jīng)過對用戶、半導體廠測試的調(diào)查,根據(jù)美國ASTM標準的規(guī)定,在電路和探頭方面作了重大的修改和技術(shù)上的許多突破,它更適合于半導體器材廠工藝檢測方面對中值、高阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要,成為普及型的電阻率測試儀。本儀器具有測量精度高,穩(wěn)定性好,重復性好,輸入阻抗高,使用方便等特點,并有自校功能。半導體電阻率測試儀采用通用的電流-電...
  • 23

    2016-1

    四探針電阻率測試儀不同檢定方法所需設(shè)備

    之前我們介紹過《四探針電阻率測試儀的檢定要求和環(huán)境》,本文再給大家介紹下四探針電阻率測試儀不同檢定方法所需的設(shè)備。一、檢定四探針電阻率測試儀,如果用整體法檢定,應(yīng)具備下列設(shè)備:1.一臺放大倍數(shù)不低于400倍的工具顯微鏡,若干片拋光樣片。2.一臺測力儀,測力儀的技術(shù)指標為:(a)測力范圍:0~9.8N(b)測力儀總不確定度≤5%3.三套共13個標稱的標準樣片,電阻率名義值為0.001,0.01,0.1,1,2.5,5,10,75,100,180,250,500,1000Ω·cm...
  • 13

    2016-1

    簡述粉末堆密度計的測量過程及數(shù)據(jù)處理

    粉末堆密度計適用于粉末冶金行業(yè)、制藥行業(yè)、奶粉行業(yè)、高新能源材料行業(yè)、化工、建材、合金粉等行業(yè)粉體密度的測量。測量過程是什么樣的呢?本文小編將為大家介紹下。粉末堆密度計測量密度的過程:一、試樣的制備1.將待測試樣置于烘箱中,于1100C的溫度下干燥1小時,測量前冷卻至室溫。2.將待測試樣等分為三分,取出其中一份測量其堆積密度,另兩份備用。二、測量程序1.在室溫(23±2)0C;相對濕度(50±6)%的環(huán)境下進行檢測。2.將待測試樣裝入儀器的漏斗中,...
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