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四探針?lè)阶铚y(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述:四探針?lè)阶铚y(cè)試儀廠家,配置232電腦接口及USB兩種接口,本機(jī)結(jié)合采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-06-13
  • 訪  問(wèn)  量:2991
詳細(xì)介紹
品牌ROOKO/瑞柯價(jià)格區(qū)間3萬(wàn)-5萬(wàn)
自動(dòng)化度全自動(dòng)產(chǎn)地類(lèi)別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域化工,能源,電子,航天,汽車(chē)

FT-330系列普通四探針方阻測(cè)試儀

FT-330 Series common four probe resistance ratio test instrument

  1. 描述Description:

采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語(yǔ)言版本.

.參照標(biāo)準(zhǔn)standard

硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造;GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā?/span>.

.四探針方阻測(cè)試儀適用范圍Applicable scope

適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具;液晶顯示,自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償,并帶有溫度補(bǔ)償功能,自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程;采用AD芯片控制,恒流輸出,選配:PC軟件,保存和打印數(shù)據(jù),生成報(bào)表

用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試

四探針方阻測(cè)試儀

             

 


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