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| 品牌 | ROOKO/瑞柯 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,冶金,航天,制藥 |
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FT-352導(dǎo)體材料高溫電阻率測試系統(tǒng)
一、概述：
采用由四端測量方法測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱結(jié)合配置的高溫測試探針治具，滿足半導(dǎo)體及導(dǎo)體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過良好的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線，是檢驗(yàn)和分析材料質(zhì)量的一種重要的工具。
二、高溫電阻率測試儀原理適用行業(yè)：
廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測量.
三、功能介紹：液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測量并根據(jù)測試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；
本儀器采用4.3寸大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購.
四、高溫電阻率測試儀技術(shù)參數(shù)資料
一、電阻測量范圍：
1、電阻率： 1×10-8～2×106Ω-cm
電 阻：1×10-8～2×106Ω
電導(dǎo)率：5 ×10-6～1×108ms/cm
分辨率： zui小0.1μΩ
測量誤差±（0.05%讀數(shù)±5字）
2、測量電壓量程： 2mV 20mV 200mV 2V
測量精度±（0.1%讀數(shù)）
分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV
3、⑴電流輸出：直流電流 0～10000mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。
⑵量程：1μA，10μA，100?A，1mA，10mA，1000mA,10A量程可自動(dòng)轉(zhuǎn)換或者人工設(shè)定.
⑶誤差：±0.2%讀數(shù)±2字
4. 主機(jī)外形尺寸：330mm*340mm*120mm
5、顯示方式：液晶顯示
6、電源：220±10% 50HZ/60HZ
10. zui高溫度： 1200℃可調(diào)節(jié)；沖溫值：≤1-3℃；控溫精度：±1°C
11、升溫速度：9999分鐘以內(nèi)自由設(shè)定,一般10分鐘內(nèi)即可升到900℃；功率：3kw.
12、爐膛材料：采用復(fù)合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征。
13、帶PC測試軟件，USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)！
14.選購：電腦和打印機(jī)
高溫電阻率測試儀
用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).
雙電測四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測量。設(shè)計(jì)參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
還有如下相關(guān)產(chǎn)品：FT-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)；FT-352導(dǎo)體材料高溫電阻率測試系統(tǒng)； FT-353絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試系統(tǒng)
