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半導(dǎo)體電阻率測試儀

簡要描述:半導(dǎo)體電阻率測試儀適用范圍:
1.覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-06-13
  • 訪  問  量:7700
詳細(xì)介紹
價(jià)格區(qū)間面議自動化度手動
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,農(nóng)業(yè),能源,印刷包裝

半導(dǎo)體電阻率測試儀操作手冊

功能描述Description:

  • 四探針組合雙電測量方法
  • 液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數(shù)補(bǔ)償.
  • 集成電路系統(tǒng)、恒流輸出.
  • 選配:PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.
  • 提供中文或英文兩種語言操作界面選擇
  • 參照標(biāo)準(zhǔn):

    1.硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84).

    2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.

    3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.

    4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

    雙電組合測試方法:

    利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響,適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試

  • 半導(dǎo)體電阻率測試儀操作手冊

  • 規(guī)格型號/ model

    FT-341

    FT-342

    FT-343

    FT-345

    FT-346

    FT-347

    1.方塊電阻

    10-5~2×105Ω/□

    10-4~2×105Ω/□

    10-3~2×105Ω/□

    10-3~2×104Ω /□

    10-2~2×105Ω/□

    10-2~2×104Ω/□

    2.電阻率

    10-6~2×106Ω-cm

    10-5~2×106Ω-cm

    10-4~2×106Ω-cm

    10-4~2×105Ω-cm

    10-3~2×106Ω-cm

    10-3~2×106Ω-cm

    3.測試電流

    0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,10mA,100mA

    1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

    0.1μA.μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

    1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

    0.1μA、1μA、10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

    1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

    4.電流精度

    ±0.1% 

    ±0.2%  

    ±0.2% 

    ±0.3%  

    ±0.3%  

    ±0.3%  accuracy

    5.電阻精度

    ≤0.3% 

    ≤0.3% 

    ≤0.3% 

    ≤0.5% 

    ≤0.5% 

    ≤0.5% accuracy

    6.顯示讀數(shù)

    屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

    7.測試方式

    雙電測量

    8.電源

    輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W 

    9.誤差

    ≤3%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果)

    10.選購功能

    選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺;5.標(biāo)準(zhǔn)電阻 

    11.測試探頭t

    探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

 

 

   

 

 


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