四探針電阻率又名方阻測試儀是用來測量半導體材料(主要是硅單晶、鍺四探針電阻率方阻測試儀單晶、硅片)電阻率，以及擴散層、外延層、 ITO 導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份(簡稱:主機)、測試架及四探針頭組成。
超高阻雙電四探針測試儀是寧波江北瑞柯偉業(yè)儀器有限公司研發(fā)的產(chǎn)品，目前已被多家企業(yè)咨詢，預定，購買。超高阻雙電四探針測試儀又是一種針對于產(chǎn)品性能測試的儀器，這款儀器不但實用性強，而且*，瑞柯儀器一直在研發(fā)新品，如果你對我們的儀器感興趣，歡迎。
超高阻雙電四探針測試儀為解決四探針法測試超高阻值材料方阻及電阻率，zui大可以測試到1010Ω方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的zui大方阻值，本機還可以配合各類環(huán)境溫度試驗箱體使用，通過不同的測量治具滿足不同環(huán)境溫度下測量方阻和電阻率的需求.采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
本超高阻雙電四探針測試儀儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.
