粉體綜合特性測(cè)試儀使用Hausner Ratio豪斯納比和壓縮性指數(shù)來(lái)評(píng)定粉體的流動(dòng)性，還可以通過(guò)休止角或者安息角數(shù)據(jù)，定質(zhì)量法和定體積法獲得粉體流速數(shù)據(jù)來(lái)綜合評(píng)定粉體性狀表征特性。由微電腦自動(dòng)化控制技術(shù)；可以測(cè)試粉體、粉體和顆粒之流動(dòng)性、松裝密度、堆積密度、體積密度和堆密度參數(shù)；當(dāng)測(cè)試流動(dòng)性時(shí)，自動(dòng)開(kāi)啟控制閥門，自動(dòng)計(jì)時(shí)和流完自動(dòng)停止計(jì)時(shí)；當(dāng)進(jìn)行粉體和顆粒密度測(cè)試時(shí)，無(wú)需另購(gòu)稱重天平，自動(dòng)稱重并記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，由液晶顯示并自動(dòng)計(jì)算密度值；自動(dòng)通過(guò)先進(jìn)的測(cè)控技術(shù)，以減少傳統(tǒng)的手工堵塞方式帶來(lái)的測(cè)試誤差和秒表計(jì)時(shí)誤差；并配備多規(guī)格可轉(zhuǎn)換漏斗以滿足不同密度測(cè)試對(duì)漏斗之要求，對(duì)粉體性狀分析和產(chǎn)品質(zhì)量管控、配比都有很好的提升從而幫助企業(yè)降低生產(chǎn)成本。定位結(jié)構(gòu)保證測(cè)試結(jié)果之準(zhǔn)確性。
各種粉體綜合特性測(cè)試儀測(cè)試方法的優(yōu)勢(shì)和不足：
(1) 激光法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量和干法測(cè)量。缺點(diǎn)：分辨力較低。
(2) 動(dòng)態(tài)圖像法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可測(cè)量大顆粒，可進(jìn)行圓形度、長(zhǎng)徑比等形貌分析。缺點(diǎn)：不能分析細(xì)顆粒（如 <2μm），儀器成本較高。
(3) 靜態(tài)圖像法：優(yōu)點(diǎn)：成本較低、圖像清晰、可進(jìn)行圓形度、長(zhǎng)徑比等形貌分析。 缺點(diǎn)：操作復(fù)雜，分析速度慢，無(wú)法分析細(xì)顆粒（如 <2μm）。
(4) 電鏡法：優(yōu)點(diǎn)：能精分析納米顆粒和超細(xì)顆粒粒度和形貌，圖像清晰，表面紋理可見(jiàn)，分辨率高，是表征納米顆粒粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。缺點(diǎn)：代表性差、儀器價(jià)格昂貴。
(5) 光阻法：優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試速度快，可測(cè)液體或氣體中低濃度顆粒數(shù)，分辨力高，樣品用量少。缺點(diǎn)：進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜，不適用粒徑 <1μm 的樣品。
(6) 電阻法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，可測(cè)顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn)：不適合測(cè)量超細(xì)樣品和寬分布樣品，維護(hù)時(shí)更換小孔管比較麻煩。
(7) 沉降法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格較低，測(cè)試范圍較大。缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)，操作復(fù)雜。
(8) 篩分法：優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低，常用于大于38μm（400目）的樣品。缺點(diǎn)：不能用于超細(xì)樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
(9) 動(dòng)態(tài)光散射法：優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試范圍寬（從納米到亞微米）、測(cè)試速度快，重復(fù)性好，操作簡(jiǎn)便。缺點(diǎn)：測(cè)試寬分布的納米材料誤差較大。
(10) 超聲波法：粉體綜合特性測(cè)試儀的優(yōu)點(diǎn)：可對(duì)高濃度漿料直接現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量，無(wú)需稀釋樣品。 缺點(diǎn)：分辨率較低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較差，結(jié)果受環(huán)境因素影響較大。
