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四探針電阻率測試步驟流程

半導體采用四探針法測試電阻率及電導率，他的性質在一般情況下，半導體電導率隨溫度的升高而減小，這與金屬導體恰好相反。

上述特征的材料都可歸入半導體材料的范圍。反映半導體材料內在基本性質的卻是各種外界因素如光、熱、磁、電等作用于半導體而引起的物理效應和現(xiàn)象，這些為半導體材料的半導體性質。

半導體材料分為元素半導體、無機化合物半導體、有機化合物半導體和非晶態(tài)與液態(tài)半導體。

備制不同的半導體器件對半導體材料有不同的形態(tài)要求，包括單晶的切片、磨片、拋光片、薄膜等。半導體材料的不同形態(tài)要求對應不同的加工工藝。

半導體材料的特性參數(shù)對于材料應用甚為重要。不同的特性半導體材料決定不同的用途。

下面就半導體材料四探針電阻率測試儀給大家介紹下操作流程及操作步驟，就FT-341四探針電阻率測試儀為例，來做詳細的介紹：

1. 先備制好樣品，樣品一般需要在恒定的環(huán)境下放置一定的時間，來保證樣品性質的一致性。
2. 開機預熱，并準備好電腦開啟PC軟件，及固定好測試平臺的調節(jié)，探頭。
3. 將樣品放置于平臺上，并將旋轉上下調節(jié)旋鈕將探頭探針調節(jié)并壓著樣品表面。
4. 此時需要在顯示器上設置好測試條件，包括：測試電壓，電流、探針間距、通訊方式選擇、探針間距等相關數(shù)據(jù)。
5. 結果的輸出為：電阻（方阻）、電阻率、電導率等相關數(shù)據(jù)
6. 由于所有的修正數(shù)據(jù)已經(jīng)寫入軟件，則，無需使用者做復雜的計算，全部由程序來完成。